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描述：天瑞X射線熒光光譜儀EDX4500是利用XRF檢測原理實現(xiàn)對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對高含量的Cr、Ni、Mo等關(guān)注的元素進行準確分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應(yīng)用上也十分廣泛。
廠商性質(zhì)
經(jīng)銷商更新時間
2025-05-18訪問量
1436| 品牌 | 其他品牌 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,地礦,電子/電池,包裝/造紙/印刷,紡織/印染 |
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天瑞X射線熒光光譜儀EDX4500性能參數(shù)：
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍：ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時間：60秒-200秒
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35%-70%
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
樣品腔體積：Φ320mm×100mm
重量：65Kg
天瑞X射線熒光光譜儀EDX4500性能特點：
超薄窗X光管，指標達到國際水平。
數(shù)字多道技術(shù)，讓測試更快，計數(shù)率達到100000CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好。
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比。
低能X射線激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好。
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍。
自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性。
高信噪比的電子線路單元。
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣。
解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測元素的測試結(jié)果具有相等的分析精度。
多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增大效應(yīng)得到明顯的抑制。
內(nèi)置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然。
標準配置：
超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數(shù)字多道技術(shù)
鋼鐵行業(yè)測試專用配件
光路增強系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩(wěn)譜裝置
三重安全保護模式
相互獨立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結(jié)構(gòu)，力度可靠的保證
90mm×70mm的液晶屏
真空泵
應(yīng)用領(lǐng)域：
鋼鐵檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素等）。
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