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描述：膜厚儀thick系列（又稱X射線膜厚儀）是一款無(wú)損、快速、的一款精密膜厚儀器，主要應(yīng)用于測(cè)試電鍍金屬鍍層（鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍銀、鍍銅等）厚度測(cè)試，檢出限可達(dá)2ppm，薄可測(cè)試0.005μm，多可以分析五層，同時(shí)可以分析電鍍液成份，產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于電子電器（線路板、電子連接器、、五金工具（螺絲、手表、端子等）、航天航空、汽車等行業(yè)中
廠商性質(zhì)
經(jīng)銷商更新時(shí)間
2025-05-18訪問量
1204| 品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,包裝/造紙/印刷 |
膜厚儀thick系列產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
的樣品觀測(cè)系統(tǒng)
*圖像識(shí)別
精密的三維移動(dòng)平臺(tái)
輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢測(cè)
四種微孔聚焦準(zhǔn)直器，自動(dòng)切換
雙重保護(hù)措施，實(shí)現(xiàn)無(wú)縫防撞
關(guān)蓋推進(jìn)樣品臺(tái)，下降Z軸測(cè)試平臺(tái)并自動(dòng)完成對(duì)焦
直接點(diǎn)擊全景或局部景圖像選取測(cè)試點(diǎn)
點(diǎn)擊軟件界面測(cè)試按鈕，自動(dòng)完成測(cè)試并顯示測(cè)試結(jié)果
采用大面積高分辨率探測(cè)器，有效降低檢出限，提高測(cè)試精度
全自動(dòng)智能控制方式，一鍵式操作!
開機(jī)自動(dòng)退出自檢、復(fù)位
開蓋自動(dòng)退出樣品臺(tái)，升起Z軸測(cè)試平臺(tái)，方便放樣
膜厚儀thick系列儀圖片
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EDX600 SANX膜厚儀
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產(chǎn)品分類
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