儀器介紹

性能特點

桌上型X熒光ROHS分析儀，就是秉承X熒光的原理設計制造的，同時為了滿足不同應用領域的客戶，采用專業(yè)化的設計思路，在軟件與硬件設計上支持客戶應用設計，更貼近客戶實際使用要求。

X熒光是電子行業(yè)企業(yè)中適用的環(huán)保檢測設備，它更適合企業(yè)的品質檢驗使用。再結合機關的測試方法，就*可以起到對生產的產品的環(huán)保的作用，達到歐盟RoHS指令對產品的環(huán)保要求。

參數規(guī)

分析含量一般為1ppm到99.99％

任意多個可選擇的分析和識別模型

相互獨立的基體效應校正模型

多變量非線性回歸程序

溫度適應范圍為15℃至30℃元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）

分析檢出限可達1ppm

電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源

能量分辨率：160±5eV

外觀尺寸： 550×416×333mm

樣品腔尺寸：460×298×98mm

重量：45Kg

桌上型X熒光ROHS分析儀

樣品處理

1. 對樣品無需前處理，可以快速無損測試樣品，測試時間很短。X熒光是光物理檢測方法，其對樣品沒有任何破壞，因此，其測 試樣品無需前處理，測試速度很快，一般只需要1～3分鐘即可測試5種有害元素的含量。

2.對產品或器件做到過濾，可快速判斷樣品是否符合RoHS指令的要求。其特點為：

 a) 測試判斷為環(huán)保的樣品，其均為環(huán)保產品

 b) 如果測試結果為不環(huán)保，并不代表其樣品為不環(huán)保的產品。其表現為.i. X熒光測試的是Cr的總量，它并不能區(qū)分Cr6+，所以X熒光測試Cr超標時，并不等于Cr6+超標；.Br測試的也是總量，并不能區(qū)分PBB、PBDE和其他的溴化合物，所以同樣，其測試總溴不超標的，其一定時環(huán)保的，而總溴超標的則不一定時PBB、PBDE超標。3.接近歐盟海關的測試方法

歐盟海關是采用X熒光的檢測方法，進行快速通關檢測。對于X熒光檢測合格的產品，其可以快速放行。對懷疑的或者超標的樣品，再次作化學分析。因此，X熒光模擬了歐盟的通關篩選過程。

4.更簡便的操作方法，無需專業(yè)人士

EDX系列X熒光ROHS分析儀針對RoHS測試采用專業(yè)化設計，其硬件配置更有利

于有害金屬物質的測量，同時，采用國內的RoHS測試

軟件，操作非常簡便，適合一般的品質檢驗人員使用，無需專

業(yè)測試人員。

5.測試費用與維護費用低廉

EDX系列是采用的半導體制冷的探測器，所以，無需液氮制

冷，避免了添加液氮的繁瑣，同時測試過程基本不需要任何耗

材，因此測試使用成本很低。儀器的主要備件采用OEM采購，所以，備件成本比同類產品低，同時備件的定購儲備量充足。

6.無需嚴格的測試條件，對環(huán)境的要求比較簡單，只需要濕度小于70％，溫度在15～25℃之間，要求電源電壓穩(wěn)定即可。這非常適合在工廠的品質檢驗使用，可放置在生產線，保證對樣品的快速檢驗測試。

產品優(yōu)勢

1、內置高清晰攝象頭,方便用戶隨時監(jiān)測樣品.

2、*的信噪比增強系統(tǒng),大大提高微量元素的檢出限與檢測精度

3、特別開發(fā)的RoHS測量軟件,操作界面十分友好

4、可選的準直器系列,分別針對不同大小的樣品.

5、超大樣品腔,對樣品尺寸無限制.

6、精準的移動平臺,更方便地調節(jié)樣品位置.

7、半導體硅片電制冷系統(tǒng),擯棄液氮制冷.

8、測量RoHS,電鍍鍍層,全元素分析,一機多用.

根據招標要求，我公司為用戶提供全面的技術培訓，其方式主要為現場培訓。通過此方式使用戶對系統(tǒng)的安裝、調試、日常操作和管理維護，以及基本的故障診斷與排錯等技術實際操作水平得到提高。

應用領域

RoHS指令中Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl檢測；

八大重金屬（Sb,Ba,Cd,Cr,Pb,Hg,Se,As）檢測；

鍍層厚度分析；

合金成分分析；

性能特點

EDX1800B鹵素ROHS溴檢測儀采用下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求；準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足不同樣品材質和測試點的檢測；移動平臺：精細的手動移動平臺，方便定位測試點；高分辨率探測器：提高分析的準確性；新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達100W的功率實現更高的測試效率。

技術參數  

1.元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)；

2.元素含量分析范圍為2 PPm到99.99%；

3.測量時間：60-200秒；  

4.RoHS指令規(guī)定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br）其檢測限度達2PPM,Cl檢測限度50PPM；

5.鍍層分析，同時可分析多達3層以上鍍層；

6.分析厚度檢出限達0.01μm, 多次測量重復性可達0.05μm；

7.多次測量重復性可達0.1％（總熒光強度）；

8.長期工作穩(wěn)定性為0.1％；（總熒光強度）。